公司地址：深圳市龙华区新湖路28号
测试项目：低温、高温测试
测试标准：GB/T2423.1-2008、GB/T2423.2-2008
测试样品：电工电子产品
（低温运行、低温贮存）试验的目的是检验试件能否在长期的低温环境中储藏、操纵控制，是确定军民用设备在低温条件下储存和工作的适应性及耐久性。低温下材料物理化学性能。标准中对于试验前处理、试验初始检测、样品安装、中间检测、试验后处理、升温速度、温度柜负载条件、被测物与温度柜体积比等均有规范要求。主要用于科研研究、医辽用品的保存、生物制品、远洋制品、电子元件、化工材料等特殊材料的低温实验及储存。
低温条件下试件的失效模式：产品所使用零件、材料在低温时可能发生龟裂、脆化、可动部卡死、特性改变等现象。
低温环境对设备的主要影响有：
a. 使材料发硬变脆；
b. 润滑剂粘度增加，流动能力降低，润滑作用减小；
c. 电子元器件性能发生变化；
d. 水冷凝结冰；
e. 密封件失效；
f. 材料收缩造成机械结构变化。
低温测试目的：用来确定元件、设备或其他产品在低温环境下使用、运输或贮存的能力。
低温测试的温度有：
-65℃
-55℃
-50℃
-40℃
-33℃
-25℃
-20℃
-10℃
-5℃
+5℃
测试时长有：
2h
16h
72h
96h
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（高温运行、高温贮存）的目的是确定军民用设备、零部件在常温条件下储存和工作的储存、使用的适应性及耐久性。确认材料高温下的性能。 |
高温测试目的：用来确定元件、设备或其他产品在高温环境下使用、运输或贮存能力。
高温测试的温度有：
+1000℃
+800℃
+630℃
+500℃
+400℃
+315℃
+250℃
+200℃
+175℃
+155℃
+125℃
+100℃
+85℃
+70℃
+65℃
+60℃
+55℃
+50℃
+45℃
+40℃
+35℃
+30℃
测试时长有：
2h
16h
72h
96h
168h
240h
336h
1000h
高低温测试方法：
非散热试验样品低温试验：温度渐变
散热试验样品低温试验：温度渐变；试验样品在整个试验过程通电。
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